TESCAN AMBER X 高分辨氙离子源双束扫描电镜
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产品定位
▶TESCAN AMBER X™2 是荣获 2025 R&D 100 大奖的高分辨氙等离子双束扫描电镜。融合 Mistral™ Xe+ 等离子 FIB 与第三代 BrightBeam™ 无漏磁 UHR-SEM，实现无镓污染、高通量、高精度的样品制备与表征，是材料、半导体、电池领域的顶级科研利器。
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核心技术
▶搭载 3.3μA 超大电流氙等离子源，切割效率较传统 Ga FIB 提升 10 倍，10nm 分辨率兼顾速度与精度。TEM AutoPrep Pro™ AI 软件实现全自动薄片制备，500eV 低能抛光将损伤层降至极致，新手也能产出 30nm 级高质量 TEM 样品。
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应用价值
▶一机集成 3D EDS、3D EBSD、3D ToF-SIMS、拉曼及 4D-STEM 多模态分析，支持原子尺度到毫米级跨尺度表征。适用于高校材料学院、半导体研发、新能源电池等场景，大幅提升科研产出效率。
¥
1500
