常规材料检测效率翻倍！钨灯丝SEM也能做元素分析｜TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电镜 3.0nm分辨率 集成EDS能谱
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产品定位
▶TESCAN VEGA第四代钨灯丝扫描电子显微镜，集成Essence™电镜操控软件系统，将SEM形貌成像与元素实时分析集成于同一窗口。采用创新电子光学设计、无机械光阑、大视野光路、3D防碰撞模块及多种选配探测器，适用于质量控制、故障分析和研究实验室中的常规材料检测。捷克原装进口，历经16年市场考验，已发展至成熟的第四代产品。
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核心技术
▶Essence™ EDS集成能谱：完全集成的分析平台，单一窗口实现SEM成像和元素成分分析，形貌与成分直接关联。In-Flight Beam Tracing™实时电子束追踪：独特无机械光阑设计，专利技术快速获得最佳成像及分析条件，一键切换无需机械对中。Wide Field Optics™大视野光路：最低2倍放大倍率，无需额外光学导航相机即可轻松精确实现SEM导航。SingleVac™低真空模式：标准配置，为观测不导电样品和电子束敏感样品提供便利。Essence™ 3D Collision Model：实时3D碰撞模拟，有效保护硬件。
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应用价值
▶材料科学：支持金属、陶瓷、聚合物、复合材料等多种材料的微观结构表征。质量控制：稳定的SE和BSE成像，3.0nm分辨率，快速完成常规材料检测和缺陷分析。故障分析：集成EDS能谱，形貌与成分同时分析，快速定位失效原因。研究实验室：模块化探测器平台，可选配BSE/CL/拉曼等，适应不同分析需求。目标用户：高校科研院所、企业研发中心、质量检测机构、第三方实验室。
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1500
