无损透视内部结构！3微米级三维成像神器｜TESCAN DynaTOM 高分辨率三维X射线显微镜 3µm分辨率 4D原位成像
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产品定位
▶TESCAN DynaTOM高分辨率三维X射线显微镜是一款高通量微米级X射线显微镜，专为材料研究、失效分析和质量控制设计。采用全球首创的旋转机架架构（固定样品+旋转源探测器），实现真正的4D原位动态成像，将同步辐射级高速成像能力带入普通实验室。3µm亚微米级空间分辨率配合＜10秒时间分辨率，可无损透视材料内部三维结构，广泛应用于材料科学、地球科学、能源电池、工业制造等领域。
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核心技术
▶采用封闭式微焦点X射线源（40-130kV，最高39W）配合高速大视场探测器，实现3µm真实空间分辨率。核心创新是水平旋转机架架构——样品固定不动，X射线源和探测器绕样品水平旋转，彻底解决复杂原位装置的电缆缠绕问题，支持加热/压缩/流动/电化学等多种原位环境。工业级旋转机架+高帧率探测器实现＜10秒/旋转的超高时间分辨率，配合"On-the-fly"实时重建技术，实验过程中即可查看4D动态结果。Acquila™+Panthera™双软件平台提供从采集到分析的完整工作流。
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应用价值
▶在材料科学领域，可连续观测结构合金和复合材料的拉伸/压缩变形、裂纹萌生与扩展、冻结熔化循环，验证模拟仿真结果。在地球科学领域，支持多孔介质多相流体流动、CO₂/H₂地下封存、地热储层、流体-岩石相互作用研究。在能源电池领域，可原位观测充放电循环中电极膨胀、裂纹、孔隙率、分层、电解液迁移等退化机制。在工业制造领域，用于无损检测、增材制造内部缺陷分析、疲劳失效机制研究。已被南京大学（998万元）、西安石油大学（598.5万元）等高校采购，是高端材料表征的核心设备。
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