结构光照明荧光显微镜（Structured Illumination Microscopy, SIM）采用多光束干涉产生的结构光对样品信息进行调制，突破传统光学成像技术的衍射极限，将空间分辨率提升至百纳米以内，使研究人员能够以前所未有的细节实现精细结构成像。本产品具有高时空分辨率、三维超分辨、低光毒性、多色成像、通用荧...
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